PerkinElmer：应用Flat Plate等离子技术分析新油和废油中的磨损金属和添加剂元素硅

分析新油和废油以确定磨损金属的集中趋势以及添加剂金属的配方或消耗情况，这一历史已超过30年。从20世纪60年代早期到中期，原子吸收光谱（AAS）首先被应用于该领域。近年来，随着硅等元素和样品数量的与日俱增，油样分析中开始采用电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）。在过去的几年中，ICP技术取得了长足的进步，最近已开始采用螺旋负载线圈产生等离子。Optima 8300 ICP-OES系列采用全新的Flat Plate等离子技术，取代自感应耦合等离子体技术诞生以来一直广为使用的传统螺旋线圈设计。