Agilent7500系列ICP-MS的高基体样品引入(HMI)附件的性能特点
- 类别:仪器样本
- 上传人:谱标科技
- 上传时间:2018/4/24 10:25:31
- 文件大小:449K
- 下载次数:9
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简介:
高基体样品中多种痕量元素的测定一直是一个困难的 分析挑战。ICP 光学发射光谱(OES)具有优良的基 体承受能力和多元素同时分析能力,但灵敏度不足,
而且易受到复杂的光谱干扰。ICP-MS 具有难以逾越 的灵敏度和较少的干扰,但对可溶固体含量必须限制 到大约 0.1% 或更低。
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