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锤子
Agilent7500系列ICP-MS的高基体样品引入（HMI）附件的性能特点
- 类别：仪器样本
- 上传人：谱标科技
- 上传时间：2018/4/24 10:25:31
- 文件大小：449K
- 下载次数：9
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消耗积分 : 免积分
简介：
高基体样品中多种痕量元素的测定一直是一个困难的 分析挑战。ICP 光学发射光谱（OES）具有优良的基 体承受能力和多元素同时分析能力，但灵敏度不足， 而且易受到复杂的光谱干扰。ICP-MS 具有难以逾越 的灵敏度和较少的干扰，但对可溶固体含量必须限制 到大约 0.1% 或更低。
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