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旧电子电器的数量迅速增加,由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规,对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在 电子电气设备制造中,法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如,可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr 。可通过紫外 - 可见分光光度计测定六价铬,并可通过 GC 和 GC-MS 测定 PCB 和 PBDE。另一方面, 也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴。本文对用于通过原子吸收光谱法测 定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中,Tran Nahm 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程,通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。
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