使用 Agilent SVDV ICP-OES 测定地质样品中的稀土元素

电感耦合等离子体光学发射光谱 (ICP-OES) 以其多元素分析能力、宽线性动态范围和操作简便而成为一种测定 REE 不错的替代方法。此外，在一些情况中，应用其他仪器方法时，获取样品特征检验其他目标分析物的潜在干扰元素至关重要。例如，相比于 ICP-MS 测定双电荷物质（如 150Sm2+ 和 150Nd2+）产生 75As+ 的干扰数量级，ICP-OES 能够更灵活地选择无干扰的发射波长和观测位置。本研究采用 Agilent 5100 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES（5110 SVDV ICP-OES 也适用于本应用）测定地质样品中的 REE（Dy、Er、Eu、Gd、Ho、La、Lu、Nd、Pr、Sc、Sm、Tb、Th 和 Tm）。在 SVDV 观测模式下，通过一次读数获取轴向和径向等离子体观测数据，5100 和 5110 仪器能够实现同步测量。同步垂直双向观测 (SVDV) 模式能够节省数据采集时间，从而减少每个样品的氩气消耗量。