使用 Agilent 5110 ICP-OES 对碳酸锂中的 14 种杂质元素进行快速测定

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:安捷伦
  3. 上传时间:2018/6/29 16:03:21
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简介:

本文介绍了一种使用 Agilent 5110 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 分析锂原材料碳酸锂中多种杂质元素的方法,并对该方法进行了系统验证。结果显示,该方法的加标回收率均在 94%–104% 之间,且 2.5 h 稳定性实验结果的相对标准偏差 (RSD) 小于 2%,证明该方法具有良好的准确度和稳定性,适用于对多品牌、多批次碳酸锂中的杂质元素进行分析。

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