采用 8800 ICP-MS/MS 测定超纯半导体级硫酸中的难分析元素

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:安捷伦
  3. 上传时间:2018/7/15 22:12:53
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简介:

近年来碰撞/反应池技术 (CRC) 广泛应用于四极杆 ICP-MS (ICP-QMS),以消除会对复杂基质中的分析物造成质谱干扰的多原子离子。利用 CRC,可以使半导体级化学品中几乎所有待测元素的背景等效浓度 (BEC) 降低至 ppt 或亚 ppt 水平。但是,某些样品基质中的一些多原子物质非常稳定,或者原始浓度较高,可能无法通过池技术完全消除,因而仍会导致残留质谱干扰问题。在本应用简报中,我们采用 ICP-MS/MS 成功测定了硫酸中以前难以测定的痕量级 Ti 以及其它元素。

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