如何使用耗散型石英晶体微天平测量质量和厚度?

  1. 类别:课件讲义
  2. 上传人:百欧林
  3. 上传时间:2018/7/24 11:39:05
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简介:

在表面相互作用过程中,例如分子的结合、吸附、解吸、聚集和多层膜的堆积、分子层的质量和厚度发生变化。通过实时监测这些变化,我们可以监测分子结合的过程和重排。为了在分子尺度上测量这些变化,我们需要实时的纳米级技术。该技术就是耗散型石英晶体微天平技术(QCM-D)。QCM-D测量共振频率(f)和能量耗散(D)两个参数的变化,从这两个参数中可以得出表面质量和厚度的变化。通常,随着表面质量增加,f将减小。D值能标示出图层的柔软程度。分子层越软,D值越大。在质量损失的情况下,频率则会增加。如果图层从柔软变为刚性,则D值将减小。

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