扫描电镜分析导致样品破坏的原因及缓解办法

类别：标准
上传人：复纳科学仪器
上传时间：2018/8/2 17:25:08
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简介：

当使用扫描电镜（SEM）观察样品时，随着时间增加，电子束可以改变或破坏样品。样品破坏是一种不利的影响，因为它可能会改变或甚至毁坏想要观察的细节，从而改变电镜检测结果和结论。在这篇博客中，将解释导致样品破坏的原因，以及如何缓解这一过程。

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