表面形貌测量仪采用编码器进行测量，由电机-滚珠丝杠系统驱动

表面形貌测量仪 /表面形貌测定仪 型号：LY-XM-200 • X方向采用密滑动导轨作为水平移动的直线基准，导轨移动的距离采用度的光栅术行计量； • Z方向立柱也采用密滑动导轨，并采用编码器行测量，由电机-滚珠丝杠系统驱动； • 可行粗糙度和轮廓度的测量，可测量、驱动、计算、显示等，系统具有便携能，可单使用，灵活方便； • 测量软件采用 Windows平台，采用内新标准定义和评定，数学模型整； • 具有调整作台可行 Y向及各种摆角调整，用户可根据需要自由选择，调整使用方便，能齐； • 测量参数多，可行直线度、曲率偏差、双沟各种参数、平行差、度等参数的测量，并可对机械件的表面形貌如粗糙度等严格按照内标准行测量。 • 测量度，差动电感传感器测量灵敏性可达 0.01μm以内，X向光栅灵敏性达0.5μm以内，Z方向可行大量程度位移测量，度达4μm； • 测量控制位多，不仅行传统的 Z方向小位移测量和X方向的位移测量，还可行Z方向的大位移测量；选用Y方向移动作台可以测量零件的三维表面型貌。 • 采用微机控制，可手动或自动循环测量、自动消除安装误差、自动行量程变换、直接显示所得形状及各种参数，并可打印输出，具有标准数据库存储数据。