XRD Rietveld法精修扑热息痛晶胞参数

本实验以扑热息痛样品为例，研究了用粉末X射线衍射技术（XRD）测定药物活性成分（API）晶体结构的原理和方法，旨在为行业用户提供应用参考。通过ARL EQUINOX 100型台式XRD获得较高质量XRD图谱。利用Match！软件对其API定性分析，通过数据库获取与该API相近的晶体结构文件，进而将该文件导入GSAS软件进行晶胞参数Rietveld精修。结果表明，在无法获得单晶的情况下，粉末XRD也是一种解析晶体结构的重要手段。