与ns-LA-ICP-MS相比，fs-LA-ICP-MS对硫化物分析的能力:降低激光诱导基体效应

我们分别用三种不同的LA系统(213nm、193nm和200nm飞秒激光)耦合四极ICP-MS或扇区场ICP-MS分析不同的硫化物矿物(黄铁矿、黄铜矿和闪锌矿)。利用背散射电子(BSE)图像对烧蚀坑进行了研究，比较了熔体的产生量，并计算了分馏因子，确定了井下分馏程度。结果表明，三种体系的熔点存在显著差异。当使用ns系统时，样品显示有大量熔化，而使用fs激光时没有观察到熔化。多种元素对的分馏系数表明，即使在熔体产量最高的情况下，井下也没有分馏。不同硫化物试样的熔化程度与这些材料的熔化温度无关。虽然未见井下分馏，但应用193nm ns和200nm fs体系时，根据黄铜矿和磁黄铁矿的敏感性计算得到的Fe/S分馏结果存在偏差。使用200nm fs LA系统对已知PGE浓度的合成磁黄铁矿进行分析，得到了较为准确的浓度数据(3-4%;4-14% 2SD)利用硫化物作为外部参考材料。采用NIST610作为参考材料，精度提高到1.4-2.4% 2SD，与参考值的偏差提高到5-7%。