利用原子吸收光谱法监测重金属 Cd 以符合 RoHS 和 WEEE 指令的要求

旧电子电器的数量迅速增加，由此需要对旧设备进行安全处置。欧共体已经颁布了法规，对材料生产中使用的有毒金属和有机化学品的含量进行限制。遵守法规将有助于避免在设备回收或负责处置时对后人造成危害。在电子电气设备制造中，法规要求对这些材料进行测量和限制。 可采用多种分析仪器技术来测定这些有害物质。例如，可通过 AA、ICP-OES 或 ICP-MS 测定重金属 Cd、Pb、Hg 和 Cr [1-2]。可通过紫外- 可见分光光度计测定六价铬 [3-4]，并可通过 GC [5] 和 GC-MS [6-7] 测定 PCB 和 PBDE。另一方面，也可以利用 XRF 筛查重金属和总溴 [1,8]。本文对用于通过原子吸收光谱法测定塑料中 Cd、Pb、Hg 和 Cr 的各种样品前处理方法进行了评估。 在编号 40 的瓦里安 ICP-OES 应用简报中，Tran Nahm [9] 报道了使用 ICP-OES 仪器测定塑料中的重金属。本文报道了使用相同的分析样品前处理过程，通过原子吸收和塞曼石墨炉对塑料中的 Cd、Cr、Pb 和 Hg 进行测量。