原子力显微镜扫描电镜关联成像在纳米颗粒、石墨烯的三维表面形貌,深度轮廓,表面粗糙度测量应用

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:科适特
  3. 上传时间:2019/1/13 19:16:26
  4. 文件大小:375K
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简介:

LiteScope显微镜优势 整合了AFM和SEM的技术优势,首创型的同步原子力和电镜的成像 获得前所未有的图像信息 即插即用的解决方案–方便使用 整合表面特征的工具 SEM – 图像, 化学分析, 表面修饰 AFM – 3D 表面形貌,粗糙度,导电性,电子特性 相关显微镜 – CPEM (探针显微镜和电子显微镜关联)

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