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钼蓝光度法是测定硅的经典方法,其精密度好,灵 敏度高,至今仍广泛应用于各种基体中痕量硅的测定。 国家标准局1988年发布的荧光级Y。Os中Si的测定 方法就是采用钼蓝光度法[ 。ICP-AES法具有检出能 力好,基体效应小,精密度高,动态范围宽,自吸收效应 和背景小等优点,近年来得到越来越多的分析化学工 作者的重视。ICP-AES法分析高纯稀土氧化物中稀土 杂质和非稀土杂质的工作,国内外均有报道,但用 ICP AES法测定高纯稀土氧化物中Si尚未见报道。 本法采用特制炬管(该管已向中国专利局申请专 利)避免硅线发射,直接用ICP—AES法测定4N荧光 级Eu2O3中Si,2mg·ml~ Eu2O 样品液测定下限为 3pg·g~ .回收率98 ~ 104 ,RSD"~士1O 。车法 简便、快速、灵敏、准确
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