半导体测试器件发展新起点
- 类别:操作维修手册
- 上传人:无锡冠亚
- 上传时间:2019/3/5 16:13:05
- 文件大小:14K
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简介:
长期以来,由于集成电路的高速发展,我国元器件行业一直受困于材料以及工艺方面种种制约,半导体以及芯片的生产测试,尤为重要,所以,这对于无锡冠亚半导体测试器件来说又是一个新的机遇。
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