iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:赛默飞色谱与质谱
- 上传时间:2019/3/29 9:46:10
- 文件大小:682K
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简介:
高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素,通过 Qtegra 自动调谐功能,在 Qcell 加入高流量的氧气反应,将 MoO 转化为多氧化钼,将干扰质量数进行迁移,与 Cd 测定同位素分开,从而消除干扰,以满足高纯氧化钼中镉的测定。
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