电感耦合等离子体光谱法中非光谱干扰效应的观测和统计检验

干扰效应的研究，是ICP-AES中最重要的基础研究课题之一。干扰可分为光谱干扰和 非光谱干扰。光谱干扰具有可加性，一般可进行有效的校正}非光谱干扰不具可加性， 不能 进行简单的校正， 一般只能通过参比样品基体匹配““ 、内参比法“ 及ICP操作参数的 选择等来补偿。对ICP—AES中非光谱干扰机理进行系统的研究，对于深入了解这种干扰 的规律和探讨新的更有效的补偿校正方法具有重要意义。要进行这些研究， 首先要研究干扰 的识别方法。本文研究用干扰因子l0gI ／I 衡量干扰效应，用t检验来识别非光谱干扰的 方法。