氧化铝粉体的静态图像粒度分析及其与扫描电镜的比较

为了准确全面地了解颗粒的图像和粒度信息，运用一种新型的静态图像粒度分析技术，对5种工艺制备α氧化铝的粒度和颗粒形貌进行了定量分析，并与激光粒度仪的粒度分析结果和SEM颗粒形貌结果进行了对比研究。结果表明，Occhio 500nano分析技术具有强大的高分辨采样能力和对颗粒形貌进行三维量化的微观表征能力，可同时获得包括颗粒的等效体积直径、等效面积直径、费雷特直径、内径、厚度、最小外接圆直径等粒度参数，以及长宽比、无规度、沃德尔球形度、欧奇奥钝度、欧奇奥粗糙度和分形维数等颗粒形貌分布数据。此外，该方法制样简单，可对数万个颗粒形貌进行定量统计分析，颗粒成像可与扫描电镜实现很好的对应，并能捕捉到激光粒度分析难以统计到的少于1%的超大颗粒，表现出很高的准确性、客观性和可靠性。因此，这种新型的分析技术有望成为包括α氧化铝在内的多种粉体分析测试和工艺开发研究的有力工具。