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锤子
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍
- 类别：标准
- 上传人：QUANTUM量子科学
- 上传时间：2020/7/15 14:22:42
- 文件大小：1380K
- 下载次数：9
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简介：
ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
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