消耗积分 : 免积分
ILX Lightwave 研发了一种波长测量的技术,该技术基于有色滤光片的波长和透射率的特征关系(见Figure 2)。某些波长测量应用需要皮米量级的精度和分辨率,这时可以通过复杂的干涉仪技术实现。而ILX Lightwave采用更为简单的技术实现1nm测量精度和0.1nm分辨率的波长测量,该波长测量技术可以很好地满足诸多精度要求一般的测试。
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