AtomicForceMicroscopy(AFM)原子力显微镜
- 类别:其他资料
- 上传人:多为莱博
- 上传时间:2020/9/7 10:09:34
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简介:
原子力显微镜(AFM)是扫描探针显微镜(SPM)的一种方法,它是一种测量局部性质(如高度、摩擦力和磁性)的综合技术。AFM 由悬臂末端的尖端作为探针组成,探针通常为3-6μm 高的棱锥体,端部半径为15-40nm,用于测量探针与样品表面之间的作用力。
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