AtomicForceMicroscopy(AFM)原子力显微镜

  1. 类别:其他资料
  2. 上传人:多为莱博
  3. 上传时间:2020/9/7 10:09:34
  4. 文件大小:284K
  5. 下载次数:4
  6. 消耗积分 : 免积分

收藏

简介:

原子力显微镜(AFM)是扫描探针显微镜(SPM)的一种方法,它是一种测量局部性质(如高度、摩擦力和磁性)的综合技术。AFM 由悬臂末端的尖端作为探针组成,探针通常为3-6μm 高的棱锥体,端部半径为15-40nm,用于测量探针与样品表面之间的作用力。

打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。

  • 注意:
  • 1、下载文件需消耗流量,最好在wifi的环境中下载,如果使用3G、4G下载,请注意文件大小
  • 2、下载的文件一般是pdf、word文件,下载后如不能直接浏览,可到应用商店中下载相应的阅读器APP。
  • 3、下载的文件如需解压缩,如果手机没有安装解压缩软件,可到应用商店中下载相应的解压缩APP。