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扫描隧道显微镜(STM)是在扫描探针显微镜(SPM)领域发展起来的最早的技术。它生成的成像表面具有原子分辨率,横向分辨率为~ 0.1 nm,深度为~ 0.01 nm。STM 的原理是基于量子隧穿。在进行测量时,由于探针非常接近表面,所以有一个导电的尖头。同时,在探针和样品之间施加电压偏置,使电子通过空间隧道。所得到的图像是叶尖在样本表面上扫描时叶尖高度的变化。结果图像是在样品表面上扫 描尖端时尖端高度的变化。
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