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锤子
COXEM台式扫描电镜在材料学中的应用-电子半导体
- 类别：其他资料
- 上传人：欧波同
- 上传时间：2016/8/17 15:23:51
- 文件大小：3153K
- 下载次数：14
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简介：
Flexibility in selecting and using operating parameters (accelerating voltage, specimen tilt, scan line time, etc) as well as correct analytical procedures are needed to obtain the maximum information when examining semiconductors and microelectronic devices.
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