null检测 | No.2_ENG_通过BET方法分析多孔二氧化硅的比表面积（（IV）四型等温吸脱附曲线）-大昌华嘉科学仪器

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应用领域	制药/生物制药
检测样本
检测项目
参考标准	无

随着孔隙的增加或者粒径的减小，粉末的比表面积（单位质量的表面积）会增加。通过BET理论可以从吸附等温曲线中获得比表面积(Brunauer-Emmett-Teller 理论: 多分子层吸附理论) ，该理论遵循以下3个假设：对于II 和 IV型等温线，在BET公式（公式1）中， p/p0在0.05-0.3 之间(形成单分子层的相对压力范围)的曲线为一条直线。由BET曲线中的斜率和截距分别可以得到C常数和单层吸附量(Vm)。单层吸附量 (cm3 (STP) g-1)表示转化成标准状态下的覆盖所有固体表面的气体分子体积。 BET比表面积是通过单层吸附层上的吸附质分子的截面积乘以吸附量转化的覆盖分子数，计算得到的(公式 2)。吸附截面取决于吸附剂和吸附质之间的相互作用和吸附温度。σ=0.162 nm2一般用于N2分子截面积。

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配置单

全自动比表面分析仪（微孔分析）
型号：BELSORP MINI X

¥30万 - 50万
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方案详情

随着孔隙的增加或者粒径的减小，粉末的比表面积（单位质量的表面积）会增加。通过BET理论可以从吸附等温曲线中获得比表面积(Brunauer-Emmett-Teller 理论: 多分子层吸附理论) ，该理论遵循以下3个假设：

对于II 和 IV型等温线，在BET公式（公式1）中， p/p₀在0.05-0.3 之间(形成单分子层的相对压力范围)的曲线为一条直线。由BET曲线中的斜率和截距分别可以得到C常数和单层吸附量(Vm)。单层吸附量 (cm³ (STP) g^-1)表示转化成标准状态下的覆盖所有固体表面的气体分子体积。 BET比表面积是通过单层吸附层上的吸附质分子的截面积乘以吸附量转化的覆盖分子数，计算得到的(公式 2)。吸附截面取决于吸附剂和吸附质之间的相互作用和吸附温度。σ=0.162 nm²一般用于N2分子截面积。

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文献贡献者

大昌华嘉科学仪器

钻石会员丨第24年

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