方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | |
参考标准 | RoHS |
随着人们对电子产品越来越多的使用和依赖,制造商不断开发出具有更新更强、增强功能的新产品。消费者更频繁地升级更新电子产品,其结果是越来越多的电子产品需要被处理。电子产品被丢弃后,其中有害的金属元素进入到环境中,比如有毒金属镉(Cd)、铬(Cr,特别是六价铬),汞(Hg)、铅(Pb)等。为了解决这个问题,RoHS 指令限制了电子设备中有害物质镉,六价铬,汞和铅的含量水平。符合RoHS 指令的最简单和最有效的方法是使用微波消解样品制备和电感耦合等离子体发射光谱仪(ICPOES)分析。本次工作主要使用微波消解对不同种类的电子产品进行前处理并使用Avio200 ICP-OES 对样品中RoHS 指令限制元素进行分析。这项工作说明并验证了TitanMPS 微波样品制备系统和Avio200 ICP-OES 具有可以快速、准确地测定RoHS 指令覆盖下不同类型样品中元素的能力。不同酸条件、不同类型样品的消解可以使用同一种Titan MPS 微波程序,最大限度地减化RoHS 指令下的广泛复杂的样品制备。消解前加标回收率证明,在样品制备过程中,元素没有损失而且没有引入显着的污染。
HS-GCMS对聚醚多元醇中的氯氟烃和氢氯氟烃的测定分析
使用NexION 2000 ICP-MS 按照ICH Q3D 和USP <232>/<233>的规定检测和验证药用抗酸剂中的1 级和2A 级元素杂质
使用NexION 2000 ICP-MS 按照ICH Q3D 和USP <232>/<233>的规定检测和验证药用抗酸剂中的1 级和2A 级元素杂质Co
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