Avio 200 ICP-OES微波制样方案满足危害性物质限制（RoHS）指令要求

2018/05/09   下载量： 12 次

方案摘要

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 无

为了达到 RoHS 指令要求，最简单也最高效的方法是使用微波消解制样，并使用全谱直读等离子体发射光谱仪（ICP-OES）进行分析。尽管 ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态，但是它能够测量铬的总含量，以确定其是否超过规定水平。如果超过限值，则可以进一步制样，并采用其他技术手段分析样品，最终确定六价 Cr 的含量。

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随着人们对电子产品的依赖程度越来越高，各大厂商开始不断开发具有新功能的产品，这使得消费者日趋频繁地对电子产品进行更新换代，电子产品的寿命也变得越来越短，而这也导致需要处理的废弃电子产品数量不断上升，尽管人们已经开始实施并大力推广电子

产品回收计划。

电子产品中包含许多组件，一旦被丢弃，产品中的金属极可能会进入环境中。

其中最令人担忧的有毒金属包括镉（Cd）、铬（Cr，主要是六价铬[CrVI]）、汞（Hg）

和铅（Pb）。为了解决这一问题，危害性物质限制（RoHS）指令规定了镉、六

价铬、汞和铅在每种电子设备中允许存在的最高含量。

为了达到 RoHS 指令要求，最简单也最高效的方法是使用微波消解制样，并使用全谱直读等离子体发射光谱仪（ICP-OES）进行分析。尽管 ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态，但是它能够测量铬的总含量，以确定其是否超过规定水平。如果超过限值，则可以进一步制样，并采用其他技术手段分析样品，最终确定六价 Cr 的含量。

本文将重点关注如何使用 ICP-OES 分析电子产品中的多种样品类型，以确保符合 RoHS 指令要求，以及制样注意事项。

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文献贡献者

珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
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