利用 SP-ICP-MS对单壁碳纳米管进行分析

2018/08/29   下载量： 12 次

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应用领域 电子/电气
检测样本 其他
检测项目
参考标准 无

SP-ICP-MS 提供了一种单壁碳纳米管金属含量的定量方法。使用金属杂质的含量可以推测单壁碳纳米管的计数浓度，有效拓展了ICP-MS在纳米材料领域的应用。另外，一旦金属含量已知，即可测定未知样品中的单壁碳纳米管浓度。这项研究的意义是可以在无需消解碳纳米管（一个冗长繁琐的过程）的情况下准确量化碳纳米管中的金属杂质。

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随着纳米技术的应用日益频繁，各种纳米材料广泛应用于各类产品当中。碳纳米管（CNT）是使用最广泛的纳米材料之一，其年生产量高达上千吨。其生产过程通常会用到金属催化剂，因此碳纳米管表面可能残留金属纳米粒子。虽然碳纳米管成品会得以清洗，尽可能地清除残留催化剂，但依然会有少许残留物。由于残留金属会影响碳纳米管的性能，因此测定催化剂的金属残留物水平至关重要。此外，金属杂质可用作环境源和效应研究中碳纳米管的示踪物，从而克服在复杂环境和生物介质中测量碳元素的难度。

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文献贡献者

珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
钻石会员 丨 第22年
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