电子散斑干涉（ESPI）实验装置

电子散斑干涉（ESPI）实验装置

参考价：面议
型号： WSG-1型
产地： 天津
品牌： 拓普
评分：
天津市拓普仪器有限公司（天津市光学仪器厂）
金牌会员 丨 22年
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产品详情
仪器简介：

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。
仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力；
采用了最新处理光学信息的CCD测量技术
计算机处理图象，软件操作简便
可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。
成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。



技术参数：

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。
仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力；
采用了最新处理光学信息的CCD测量技术
计算机处理图象，软件操作简便
可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。
成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。



主要特点：

本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。
仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力；
采用了最新处理光学信息的CCD测量技术
计算机处理图象，软件操作简便
可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。
成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。

天津市拓普仪器有限公司（天津市光学仪器厂）为您提供拓普电子散斑干涉（ESPI）实验装置WSG-1型，拓普WSG-1型产地为天津，属于教学仪器，除了电子散斑干涉（ESPI）实验装置的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多教学仪器,天津市拓普仪器客服电话400-860-5168转0185，售前、售后均可联系。

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