首届形态分析方法暨标准研讨会在京召开

北京吉天仪器有限公司

2009/09/22 13:40
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    北京吉天仪器有限公司主办，特邀国家标准化管理委员会、国家标物中心、环保系统、农业系统、CDC系统、深圳、湖南、陕西、宁波等省市检验检疫局专家以及活跃在国内学术界从事原子荧光形态分析的顶级专家齐聚一堂，在京召开首届形态分析方法暨标准研讨会，共议原子荧光分析方法的完善和拓展，并就建立AFS国际检测标准达成一定的共识。后续详细报道将陆续推出，更多精彩敬请期待。

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