IPFA 2019 (International symposium on the physical & failure analysis ofintegrated circuits) 今日在中国杭州君悦酒店盛大召开，这场盛会是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响力最广的国际会议。本次会议将致力于对各种先进半导体器件失效分析物理机制的基本原理的理解、电子物理失效分析技术以及可用于准确识别造成这些器件失效的根本原因的方法和工具等。
本次盛会持续四天，牛津仪器在现场设有展台，与到场的专家学者展示我们在显微镜平台上的半导体失效分析解决方案以及全新推出的大样品快速扫描原子力显微镜（Jupiter XR AFM)，来自牛津仪器的应用科学家也会在现场为大家解读最新应用。
牛津仪器
展位号：35
日期：2019年7月2-5日
地点：中国杭州君悦酒店
热忱欢迎各位莅临我们展位
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