iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质

2019/03/29   下载量： 5 次

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应用领域 钢铁/金属
检测样本 钼
检测项目 含量分析>镉元素
参考标准 TUNE 程序

高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满足高纯氧化钼中镉的测定。 ?

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高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满足高纯氧化钼中镉的测定。


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文献贡献者

赛默飞色谱与质谱
钻石会员 丨 第23年
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