网络研讨会：高分辨率CT成像技术与应用

布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)

2016/08/10 14:23

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网络研讨会：高分辨率CT成像技术与应用

时间：2016-09-08 14:00

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讲座内容概要

在过去的几十年中，显微成像技术取得了令人瞩目的发展，涌现出众多新的技术和设备，如光学显微镜，SEM/TEM， AFM等，将显微成像技术的分辨能力不断推向新的高度，从微米到纳米甚至是原子尺度。但是，所有这些技术都只是对样品表面形貌进行观测，对样品制备有严格的要求。而高分辨率CT成功的弥补了这一不足，可在无损的情况下对样品内部组分及三维结构进行精确表征。

“高分辨CT技术及其应用”介绍了最新的x射线三维显微成像检测技术及其产品，该技术可对样品内部不同吸收系数的组分及微观结构进行三维高分辨率无损成像，在科研及工业领域有着广泛的应用，如石油地质，材料科学，先进制造等。

欢迎各行各业对CT感兴趣的用户参与。

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