梅特勒托利多 新超越系列XPE分析天平单页样本

2015-02-12 11:02  下载量:37

资料摘要

资料下载

XPE分析天平提供卓越的分析称量性能,并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE分析天平重复性低,因此提供更小的称量值。 质量管理特性,例如创新的StatusLightTM状态指示灯和获得专利的taticDetectTM静电检测技术,可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果。 凭借各种选配件和多个接口选件,XPE天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量。 瑞士设计与制造,卓越的品质值得您信赖。

资料下载

文献贡献者

梅特勒托利多
钻石会员 | 第21年
查看全部资料
相关资料 更多

相关产品

当前位置: 梅特勒托利多 资料 梅特勒托利多 新超越系列XPE分析天平单页样本

关注

拨打电话

留言咨询