全反射X荧光法(TXRF)测定石化产品中的 Sn, Sr元素含量

2017/12/13   下载量: 3

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应用领域 石油/化工
检测样本 柴油
检测项目 含量分析>微量元素
参考标准 TXRF

■ 单内标校正,极大的简化了定量分析,无基体影响; ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析; ■ 多元素实时分析,可进行痕量和超痕量分析; ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响; ■ 独特的液体或固体样品的微量分析,分析所需样品量小; ■ 优秀的检出限水平; ■ 出色的动态线性范围; ■ 无需任何化学前处理,无记忆效应; ■ 非破坏性分析,运行成本低廉。

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本文使用全反射X射线荧光(TXRF)方法测定石化中间体或终产品中的痕量金属元素。该方法结合了基于内标(有机镓标样)的快速检测和简便的样品制备技术,即在载样片上沉积蒸发后的样品基质,以及有效的定量方法,检测限低于0.05μg/g,大多数情况下低于0.005μg/g。十五种元素(Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Mn, Mo, Ni, Pb, Rh, Sn, Sr, V, Zn)在基质如石蜡,线型烷基苯,长链烷基醇和酯中测定出,典型金属元素含量低于1μg/g。将结果与基于ICP光谱测试的参考方法ASTM D5708(B)进行比较评估,TXRF方法表现出较优异的精确性和低偏差。


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文献贡献者

利曼中国
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