方案摘要
方案下载| 应用领域 | 能源/新能源 |
| 检测样本 | 太阳能 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | TXRF |
■ 单内标校正，极大的简化了定量分析，无基体影响； ■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； ■ K，Mn等多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； ■ 不受样品的类型和不同应用需求影响； ■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； ■ 优秀的检出限水平； ■ 出色的动态线性范围； ■ 无需任何化学前处理，无记忆效应； ■ 非破坏性分析，运行成本低廉。
全反射X射线荧光技术(TXRF)是能量色散型X射线荧光(EDXRF)技术的高级变体，是一种相对较新的材料表征技术。与EDXRF相比，TXRF的几何改进导致检测极限提高了几个数量级。 TXRF主要用于三类应用：痕量元素分析，微观分析和深度剖析。 TXRF最有吸引力的特点是其在核科学与技术领域的应用，因为分析所需的样品量非常少，所以产生的放射性废物少，工作人员接触的剂量也小。此外，低检测限、多元素分析能力以及金属和非金属元素的分析使得这种技术对于核材料的表征具有很大优势。基于上述特点，印度巴巴原子研究中心(BARC) 燃料化学部门于2003年安装TXRF光谱仪，至今已经有多项研究使用此仪器对不同的核材料进行了表征。
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