ICP-AES法检测工业硅八种杂质元素

2011-08-02 10:25  下载量:56

资料摘要

资料下载

本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品,用ICP-AES 法同时测定工业硅中的Cu、Mn、Fe、Ni、Ti、Al、P和B等八种杂质元素。该方法快速简便、准确率高、精密度好,对产品质量控制及检验杂质元素含量,具有可操作性和很好地应用价值。

资料下载

文献贡献者

相关资料 更多

相关产品

当前位置: 岛津 资料 ICP-AES法检测工业硅八种杂质元素

关注

拨打电话

留言咨询