方案摘要
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传统的基本参数法（FP）法只计算X射线荧光（净峰）的强度，而背景基本参数（BG-FP)法增加了散射X射线（背景）强度的计算。、 高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢元素的信息。
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