印刷电路板的缺陷分析

2017/03/09   下载量： 14 次

方案摘要

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应用领域 电子/电气
检测样本 电子元器件产品
检测项目
参考标准 无

对在microSDTM 卡端子上的异物进行扫描和定性分析时，使用AIM-9000的大视野相机，可以顺利完成从大视野观察到确定扫描位置的一系列操作。

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印刷电路板上的异物和斑点等会造成导电故障，为了防止此类问题的发生，查明异物和斑点的来源极为重要。本文向您介绍使用岛津AIM-9000缺陷自动分析系统，对印刷电路板上的异物进行定性分析的示例。

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文献贡献者

岛津企业管理（中国）有限公司
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