方案摘要
方案下载应用领域 | 地矿 |
检测样本 | 非金属矿产 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
建立了使用X射线荧光法对有机硅中的硅元素进行分析的新方法,通过与化学分析结果进行比对,可以满足测试需求。使用EDX分析有机硅溶液样品,无需任何前处理,灵活便捷.
使用岛津EDX-LE Plus对有机硅溶液中的Si含量分别进行了定性分析和定量分析。EDX分析无需样品前处理,灵活便捷,其定性半定量功能有一定的准确度,定量分析具有良好的准确度和稳定性,对可扩展现有的分析方法。
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