方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | 非金属矿产 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 无 |
使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。利用EPMA的高分辨率面分析，能够为研究斑晶和岩浆相互作用的历史提供宝贵的信息。
岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。EPMA可用于研究此类成岩矿物的确切化学组成和元素的二维分布。在这里，使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对云仙火山熔岩中的斜长石进行了元素面分析。结果显示，可以在斜长石边缘发现微细的结构。
文献贡献者
高能Ag靶应用于不同轨道谱峰干扰时的分析
PDA-8000直读光谱仪测定纯铁中杂质元素的含量
LCMS快速分离反义寡核苷酸及其杂质并测定其分子量
相关产品
关注
拨打电话
留言咨询
