方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 无 |
使用iSpect DIA-10对50 mg/mL的标称直径为0.2 μm的市售二氧化硅料浆原液进行直接检测，成功完成了对μm量级的粗颗粒的过滤前后浓度的定量评价。另外，发现粗颗粒并不能按过滤器孔径完全去除，通过检测进行确认是非常重要的。iSpect DIA-10采用微量池方式，针对高浓度的亚微米颗粒料浆，也可以按原液或减小稀释倍数进行检测。检出效率高，可在短时间内完成检测，因此，对质量控制中的粗颗粒（异物或凝聚物）检测和浓度评价是有效的。
二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒（异物或凝聚物），电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良，而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。
评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置（以下简称LD）和扫描电子显微镜（以下简称SEM）等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题，例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低，SEM的观察视野狭窄，导致检测时间过长，无法确保足够的测量数量，而且无法获得浓度信息等等。与之相比，动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像，因此，适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。
动态颗粒图像分析系统iSpect™ DIA-10是一种依据动态图像分析方法，获取液体样品中的颗粒图像，进行粒径分布、颗粒浓度和形状检测的装置。采用很少遗漏的光学系统（拍摄效率90%以上），可以几分钟之内分析数万个颗粒。另外，本产品采用了微量池方式，针对样品容器内白浊、不透光的样品也可以完成检测，并通过原液或减小稀释倍数检测，减少预处理的麻烦和对样品的影响。
本文中介绍使用iSpect DIA-10，以原液的状态评价二氧化硅纳米颗粒料浆中粗颗粒浓度的实例。
文献贡献者
Nexera LC-40双进样液相分析系统 应用文集
固废危废检测解决方案
基于AI算法的LC方法开发自动梯度优化
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