方案摘要
方案下载应用领域 | 制药/生物制药 |
检测样本 | 化药制剂 |
检测项目 | 含量测定>化学法 |
参考标准 | 无 |
为了各种目的,如防止变质,掩盖不愉快的味道或气味,或控制药物释放的时间等等,有些药品片剂表面有一层涂层。虽然电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)通常用于分析药品中的元素,但如果整个片剂被粉碎或溶解,就很难区分是来自于涂层的元素还是其他。 x射线荧光使片剂在不粉碎的情况下分析成为可能。本文通过对粉状和非粉状片剂的分析比较,介绍了一种简单分析涂料中不均匀分布的方法。
为了各种目的,如防止变质,掩盖不愉快的味道或气味,或控制药物释放的时间等等,有些药品片剂表面有一层涂层。虽然电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)通常用于分析药品中的元素,但如果整个片剂被粉碎或溶解,就很难区分是来自于涂层的元素还是其他。
x射线荧光使片剂在不粉碎的情况下分析成为可能。本文通过对粉状和非粉状片剂的分析比较,介绍了一种简单分析涂料中不均匀分布的方法。
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