方案摘要
方案下载应用领域 | 汽车及零部件 |
检测样本 | 车身及附件 |
检测项目 | 可靠性能>其他 |
参考标准 | 无 |
本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察碳化硅材料的内部结构。扫描碳化硅材料后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图,观察内部孔隙缺陷及杂质缺陷。通过VG软件计算碳化硅材料的孔隙率和杂质率,呈现立体效果图。
采用岛津公司的inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统检测碳化硅材料的内部结构,通过CT直观观察碳化硅材料内部孔隙及杂质。通过VG软件计算汽车碳化硅材料的孔隙率和杂质率,有助于工厂品质部管控和研发部产品开发。
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