方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 电子元器件产品 |
检测项目 | 化学性质 |
参考标准 | GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》 |
ICP-OES抗基体能力强,精密度高,分析速度快;ICPE-9820垂直炬管设计,可有效减少样品残留和防止炬管积碳积盐,适用于碳化硅中元素成分分析测定;轴向和径向双向观测可以实现外加剂中高低含量元素的同步测定。ICPEsolution软件具有软件后添加功能,可以实现最有波长推荐,并进行数据诊断。
ICP-OES抗基体能力强,精密度高,分析速度快;ICPE-9820垂直炬管设计,可有效减少样品残留和防止炬管积碳积盐。本文参考GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》,使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)分析了碳化硅中多种重金属元素的含量。分析结果显示,该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg;相对标准偏差(RSD)0.13%~5.51%,重复性良好,样品加标回收率为90.1%~106%,该方法适用于碳化硅中多元素含量的测定。
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