方案摘要
方案下载| 应用领域 | 地矿 |
| 检测样本 | 珠宝/玉石 |
| 检测项目 | 痕量元素 |
| 参考标准 | 无 |
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，结合玻璃熔片制样方法，建立了硅石主要杂质成分分析方法。结果表明，标准曲线线性良好，相关系数均在0.99以上，样品测定精度良好，RSD均在10.0%以下，该方法可用于工业硅生产中硅石样品杂质元素分析。
文献贡献者
LC-MS/MS同时分析93种全氟和多氟烷基化合物
锂离子充电电池鼓胀气的分析
一次分析锂离子电池内部降解的鼓胀气
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