方案摘要
方案下载应用领域 | 地矿 |
检测样本 | 珠宝/玉石 |
检测项目 | 痕量元素 |
参考标准 | 无 |
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,结合玻璃熔片制样方法,建立了硅石主要杂质成分分析方法。结果表明,标准曲线线性良好,相关系数均在0.99以上,样品测定精度良好,RSD均在10.0%以下,该方法可用于工业硅生产中硅石样品杂质元素分析。
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