方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 其他 |
| 检测项目 | 化学性质 |
| 参考标准 | 无 |
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，结合玻璃熔片法制样，建立了碳质材料中主要杂质成分分析方法。采用灼烧处理去除游离碳，使熔样能够顺利进行，灼烧处理对杂质元素进行了富集，提高了检测灵敏度。采用粘土标样为基础建立标准曲线，标准曲线线性良好。此方法可用于测定工业硅生产中的碳质材料，测定结果满足用户需求。
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