方案摘要
方案下载| 应用领域 | 石油/化工 |
| 检测样本 | 单质 |
| 检测项目 | 其他 |
| 参考标准 | GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》 |
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
本文参考国标GB/T 14849.5-2014，利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，建立了工业硅主要杂质成分分析方法。结果表明，标准曲线线性良好，样品测定精度良好，重复性结果满足国标要求。利用此方法测定工业硅，测定结果满足生产需求。
文献贡献者
高能Ag靶应用于不同轨道谱峰干扰时的分析
PDA-8000直读光谱仪测定纯铁中杂质元素的含量
LCMS快速分离反义寡核苷酸及其杂质并测定其分子量
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