方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 电子元器件产品 |
| 检测项目 | 化学性质>元素分析 |
| 参考标准 | 无 |
本文将介绍使用电子探针显微分析仪EPMA?（EPMA-8050G）对非接触式IC卡的截面以及IC芯片的布线图进行面分析的案例。
使用EPMA映射对非接触式IC卡的截面进行了面分析。在中低放大倍率的面分析中，明确了卡片整体的结构，并可在IC芯片与环形天线的连接位置可视化元素分布。此外，通过以高倍率下面分析IC芯片的布线图，我们可以根据元素之间的对应关系轻松识别出各层。EPMA可用于产品缺陷分析和材料可靠性评价。
文献贡献者
LC-MS/MS同时分析93种全氟和多氟烷基化合物
锂离子充电电池鼓胀气的分析
一次分析锂离子电池内部降解的鼓胀气
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