方案摘要
方案下载| 应用领域 | 钢铁/金属 |
| 检测样本 | 铝 |
| 检测项目 | 含量分析>其他 |
| 参考标准 | GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》 |
本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分，采用粉末压片法制样，以氧化铝行业标准样品建立校准曲线，曲线线性良好，正确度在可接受范围之内，相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验，确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察，同一样品重复测定多次，极差在允许范围之内，方法精度良好，满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。
本方法采用岛津MXF-2400测定氧化铝中杂质元素，采用碳化钨磨盒振动研磨，粉末压片制样，方法快速、简单，测定结果精度良好。本方法采用行业套标建立校准曲线，曲线正确度良好，满足生产工艺需求。本方法具有精度良好、操作简单、分析速度快等特点，可用于氧化铝中主要杂质含量的测定。
文献贡献者
LC-MS/MS同时分析93种全氟和多氟烷基化合物
锂离子充电电池鼓胀气的分析
一次分析锂离子电池内部降解的鼓胀气
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