X射线荧光光谱法测定铝电解质元素含量

2024/01/04   下载量: 1

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本方法采用铝电解质标样,利用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法测定F、Al、Na、Si、Fe、Ca、K、Mg等元素含量。通过研磨方法试验确定了研磨时间及助磨剂加入量,从而获得最佳研磨粒度,得到良好的分析精度;采用标样建立工作曲线,各元素线性良好,线性相关系数R大于0.999;通过标样验证实验表明方法准确度良好。

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采用粉末压片法制备样品,使用X射线荧光光谱法测定铝电解质中的FAlNaSiO2Fe2O3CaKMg元素含量,方法曲线线性良好,方法精密度、准确度满足标准《YS/T 739.1 铝电解质化学分析方法 第1部分 元素含量的测定 X射线荧光光谱法》要求。该方法是铝电解生产工艺过程控制中快速有效的分析方法。


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